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Enregistrement W2015729901 · doi:10.1109/eptc.2012.6507164

Simulation approach to improving BGA reliability on coreless packages

2012· article· en· W2015729901 sur OpenAlexaff
Cheryl Selvanayagam, Rathin Mandal

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensAdvanced Micro Devices (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésBall grid arrayReliability (semiconductor)Flip chipEngineeringMechanical engineeringFinite element methodIntegrated circuit packagingReliability engineeringStructural engineeringElectronic engineeringIntegrated circuitElectrical engineeringSolderingMaterials sciencePower (physics)Layer (electronics)Composite material

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

With the increased popularity of ultra-portable electronics such as laptops, microprocessor manufacturers have had to move away from the conventional and highly reliable pin-grid array (PGA) packages and towards ball-grid array (BGA) packages for this market segment due to thickness restrictions. This shift brings with it some reliability concerns. In addition, to shrink the form factor and improve electrical performance further, standard-core substrates are being swapped for thin-core and coreless variations. This work evaluates BGA performance of flip-chip packages with coreless substrates through finite element analysis (FEA) simulation. A three-dimensional quarter-model of a package with no heat spreader on coreless substrate with mixed BGA pitch was used so the location of expected failure can be simulated more accurately. This work then proposes a methodology for improving BGA reliability of coreless packages. Taking into account the behavior of coreless BGA packages, it is proposed that one possible method to improve BGA life in these packages would be to convert the few critical joints to dummy (power/ground plane) joints such that failure of the critical die corner joints does not result in failure of the part. This can be implemented by a design rule that stipulates the replacement of critical die corner joints with dummy joints in coreless substrates. We determined expected percentage improvement in BGA life with the implementation of such a design rule using FEA simulations and Miner's rule: for the BGA layout assumed here, results indicate that 130% improvement in BGA life is possible when five solder joints at the die corner are replaced with dummy joints. This work will be useful for robust design of solder joints in BGA packages with coreless substrates.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,213
Score d'incertitude au seuil0,439

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,018
Tête enseignante GPT0,238
Écart entre enseignants0,220 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2012
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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