MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W2054122668 · doi:10.1116/1.1650852

Low-temperature Si growth on Si (001): Impurity incorporation and limiting thickness for epitaxy

2004· article· en· W2054122668 sur OpenAlexaff
J.‐M. Baribeau, Xiaohua Wu, D. J. Lockwood, Li‐Lin Tay, G. I. Sproule

Notice bibliographique

RevueJournal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena · 2004
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueThin-Film Transistor Technologies
Établissements canadiensNational Research Council CanadaInstitute for Microstructural Sciences
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésImpurityAmorphous solidEpitaxyMaterials scienceCrystallinityMolecular beam epitaxyRaman scatteringWaferAnalytical Chemistry (journal)Activation energySiliconRaman spectroscopyCrystallographyChemistryNanotechnologyOptoelectronicsOpticsPhysical chemistryComposite material

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

We present a structural and chemical analysis of high-vacuum deposited Si films grown on clean or oxidized Si (001) wafers by low-temperature molecular-beam epitaxy. For growth on clean Si, we observed a limiting thickness for epitaxy that decreases with decreasing temperature with an activation energy of 0.47 eV. The onset of defect formation is correlated to a peak in the H impurity concentration. The transition to an amorphous phase is, however, observed beyond the depth where impurities are first observed pointing to surface disorder/roughening as a source of epitaxy breakdown. The O and C content in these films remains low until the film crystallinity has strongly deteriorated and reaches a saturation concentration of 2–4 at. % in the fully amorphous regions. The impurity profiles in amorphous-Si films grown on oxidized Si are similar to those obtained on clean Si when grown at the same temperature and indicate that the impurity uptake depends primarily on residual gas and surface condition. Raman scattering results show the structural changes and evolution of the Si bond configuration.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,143
Score d'incertitude au seuil0,960

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0010,001
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,010
Tête enseignante GPT0,207
Écart entre enseignants0,197 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations19
Publié2004
Routes d'admission1
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même revueJournal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and PhenomenaMême sujetThin-Film Transistor TechnologiesTravaux en français237 207