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Enregistrement W2065293330 · doi:10.1116/1.1351804

Low temperature aluminum nitride deposition on aluminum by rf reactive sputtering

2001· article· en· W2065293330 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueJournal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films · 2001
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAcoustic Wave Resonator Technologies
Établissements canadiensCarleton University
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Mots-clésMaterials scienceSputter depositionNitrideSputteringOptoelectronicsDeposition (geology)ResonatorThin filmSilicon nitrideSiliconElectronic engineeringComposite materialNanotechnologyLayer (electronics)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Thin film bulk acoustic resonators formed by sputter deposition of piezoelectric films of aluminum nitride on silicon substrates offer an attractive approach to monolithic integration of high Q passive circuit elements with active devices. Such resonators could provide low cost, high performance filters for the steadily growing number of consumer wireless communication devices. Fabrication of these resonators requires a well-characterized low temperature deposition process for aluminum nitride. This material has been studied for use in sensors and actuators, as well as acoustic wave devices. Radio frequency reactive magnetron sputtering produces high quality films, and provides reasonable deposition rates for fabricating high frequency resonators. This work describes aluminum nitride films deposited by radio frequency reactive magnetron sputtering with power varied from 2 to 6 W/cm2, pressure from 0.5 to 1.5 Pa, and N2 flow from 50% to 100% of the total flow. Measured results include x-ray diffraction spectra and measurements of piezoelectric coefficients. X-ray diffraction measurements indicate highly (002) c-axis oriented films. Piezoelectric coefficients e31 were measured by depositing aluminum nitride capacitors on silicon beams and measuring charge generation as each beam was deflected a known distance. Film quality was found to depend strongly on deposition power, with a smaller dependence on pressure and gas mixture. Deposition at higher pressures is preferred for resonator fabrication due to reduction in stress when compared with low pressure deposition.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,009
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,000
Bibliométrie0,0010,002
Études des sciences et des technologies0,0000,001
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,005
Tête enseignante GPT0,215
Écart entre enseignants0,210 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle