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Enregistrement W2082512053 · doi:10.4028/www.scientific.net/jnanor.17.147

Microstructural Investigation of SiO<sub>x</sub> Thin Films Grown by Reactive Sputtering on (001) Si Substrates

2012· article· en· W2082512053 sur OpenAlex
A. Delimitis, S. D. Pappas, Spyridon Grammatikopoulos, P. Poulopoulos, Vassilios Kapaklis, D. Trachylis, Constantinus Politis

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.
no affAucune affiliation canadienne : ce travail est invisible pour une base fondée sur la seule affiliation.
Aucune affiliation canadienne. Une base fondée sur la seule affiliation (le devis habituel) n'aurait jamais vu ce travail. C'est l'un des travaux qui justifient l'inversion de la base.

Notice bibliographique

RevueJournal of nano research · 2012
Typearticle
Langueen
DomaineMaterials Science
ThématiqueSilicon Nanostructures and Photoluminescence
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesUniversity of PatrasRyerson University
Mots-clésMaterials scienceAmorphous solidPhotoluminescenceSputteringAnnealing (glass)High-resolution transmission electron microscopyNanocrystalTransmission electron microscopyThin filmSputter depositionAnalytical Chemistry (journal)Lattice constantCrystallographyNanotechnologyOptoelectronicsComposite materialOpticsDiffraction

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In the Current Study, the Structural Characteristics of Siox Thin Films Grown by Magnetron Sputtering on Si Substrates Are Reported. High Resolution Transmission Electron Microscopy Revealed the Formation of Amorphous Siox Films for the as-Deposited Samples, as Well as the Ones Annealed in Ambient Air for 30 Min at 950oC and of Si Nanocrystals, Embedded in Amorphous Siox, after Ar Annealing for 1-4 Hours at 1000oC. the Nanocrystals, with Sizes up to 6 Nm, Predominately Exhibit {111} Lattice Planes. Energy-Dispersive X-Ray Analysis Showed that the Si/O Ratio Is between 0.5-1, I.e. the Amorphous Films Comprise of a Mixture of Sio2 and Sio. Phase Images and Corresponding Strain Maps Created Using Fourier Filtering Revealed a Uniform Contrast in the Nanocrystals, which Shows that the Si Lattice Constant Does Not Vary Significantly. the Residual Strain Variations, around 4%, May Account for the Possible Existence of a Small Percentage of Highly Disordered Si or Siox Residual Clusters inside the Regular Si Matrix, in Full Agreement with Photoluminescence Measurements Performed on the same Materials.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,003
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,026
Score d'incertitude au seuil0,783

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0030,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,001
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,038
Tête enseignante GPT0,309
Écart entre enseignants0,270 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle