Resolution enhancement in probing of high-speed integrated circuits using dynamic electrostatic force-gradient microscopy
Notice bibliographique
Résumé
Dynamic mode electrostatic force microscopy is a technique capable of measuring the internal voltage signals of high-speed integrated circuits. Circuit signals are extracted by utilizing the localized nonlinear Coulomb force acting on a microfabricated probe that is closely positioned above the circuit test point. Equivalent time sampling of repetitive high-frequency signals, that can have a bandwidth much greater than the mechanical response of the probe, is achieved by driving the probe with amplitude-modulated high-speed pulses. Currently, dynamic mode electrostatic force microscopes (DEFMs) extract circuit voltage signals through direct sensing of the electrostatic interaction which results in a poor spatial resolution and is susceptible to interference due to significant coupling to the tip sidewall and the cantilever support of the probe. This is especially true for large tip-to-sample distances such as when passivated circuits are measured. This article describes a force-gradient method to improve the spatial resolution of DEFM. The force-gradient method is implemented numerically and is based on sensing the force as the tip-sample distance is modulated. The method is shown to reduce the contribution from the tip sidewall and the cantilever. Measurements of high-speed signals up to 500 Mb/s demonstrate a significant reduction of interference signals.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,001 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,001 | 0,002 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,001 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».