X‐ray photoelectron spectroscopic chemical state quantification of mixed nickel metal, oxide and hydroxide systems
Pourquoi ce travail est-il dans la base ?
Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.
Scores machine (provisoires)
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
- Écart entre enseignants
- 0,267 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
- Statut de validation
score_only:v0-immature-baseline· tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle
Résumé
Abstract Quantitative chemical state X‐ray photoelectron spectroscopic analysis of mixed nickel metal, oxide, hydroxide and oxyhydroxide systems is challenging due to the complexity of the Ni 2p peak shapes resulting from multiplet splitting, shake‐up and plasmon loss structures. Quantification of mixed nickel chemical states and the qualitative determination of low concentrations of Ni(III) species are demonstrated via an approach based on standard spectra from quality reference samples (Ni, NiO, Ni(OH) 2 , NiOOH), subtraction of these spectra, and data analysis that integrates information from the Ni 2p spectrum and the O 1s spectra. Quantification of a commercial nickel powder and a thin nickel oxide film grown at 1‐Torr O 2 and 300 °C for 20 min is demonstrated. The effect of uncertain relative sensitivity factors (e.g. Ni 2.67 ± 0.54) is discussed, as is the depth of measurement for thin film analysis based on calculated inelastic mean free paths. Copyright © 2009 John Wiley & Sons, Ltd.
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La notice
- Revue
- Surface and Interface Analysis
- Thématique
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Domaine
- Materials Science
- Établissements canadiens
- Western University
- Organismes subventionnaires
- —
- Mots-clés
- NickelX-ray photoelectron spectroscopyNon-blocking I/ONickel oxideAnalytical Chemistry (journal)HydroxideChemical stateOxideChemistrySpectral lineMetalInorganic chemistryNuclear magnetic resonanceCatalysisPhysics
- Résumé présent dans OpenAlex
- oui