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Radiation damage in the TEM and SEM

2004· review· pt· 2 088 citations· W2117274978 sur OpenAlex· 10.1016/j.micron.2004.02.003

Pourquoi ce travail est-il dans la base ?

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

Affiliation canadienneUne personne signataire a déclaré un établissement canadien. C'est la seule voie dont dispose la base habituelle.
Organisme subventionnaire canadienUn organisme canadien l'a financé. Le travail peut ne porter aucune affiliation canadienne.

Résumé

Aucun résumé. Ce n'est pas une lacune de cette base de données : OpenAlex n'en a pas non plus. 23,3 % de la base est dans cet état, et le tri y repère MOITIÉ moins de métarecherche ; l'absence est donc un biais mesuré, et non un champ manquant.

La notice

Revue
Micron
Thématique
Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
Domaine
Materials Science
Établissements canadiens
University of Alberta
Organismes subventionnaires
Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Mots-clés
Radiation damageMaterials scienceIonizationIrradiationRadiationRadiolysisScanning electron microscopeElectron microscopeElectronCathode rayContaminationAtomic physicsAnalytical Chemistry (journal)OpticsComposite materialIonChemistryEnvironmental chemistryPhysicsNuclear physics
Résumé présent dans OpenAlex
non