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Enregistrement W2465693569 · doi:10.1142/s0218625x17500275

DEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF MAGNETRON CO-SPUTTERED InAlN FILM AT DIFFERENT Ar:N<sub>2</sub> GAS FLOW RATIOS

2016· article· en· W2465693569 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.
no affAucune affiliation canadienne : ce travail est invisible pour une base fondée sur la seule affiliation.
Aucune affiliation canadienne. Une base fondée sur la seule affiliation (le devis habituel) n'aurait jamais vu ce travail. C'est l'un des travaux qui justifient l'inversion de la base.

Notice bibliographique

RevueSurface Review and Letters · 2016
Typearticle
Langueen
DomainePhysics and Astronomy
ThématiqueGaN-based semiconductor devices and materials
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesMcGill University
Mots-clésMaterials scienceSputter depositionCavity magnetronSurface roughnessAnalytical Chemistry (journal)DiffractionSputteringThin filmDeposition (geology)OptoelectronicsNanotechnologyComposite materialOpticsChemistry

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

This work presents the influence of changing Ar:N 2 gas ratio on the growth and properties of InAlN films. InAlN films were deposited on [Formula: see text]-type Si(111) substrates by using magnetron co-sputtering method in 6:12, 10:10, 12:8 and 12:6 Ar:N 2 mixtures at 300[Formula: see text]C. The surface, structural, electrical and optical properties of the deposited films were evaluated at different Ar:N 2 ratios. The grain size and film thickness were increased by increasing the Ar flow with respect to N 2 . Structural characterization by X-ray diffraction (XRD) revealed an improvement in the crystalline quality of the [Formula: see text]-axis-oriented InAlN film by adjusting the Ar:N 2 ratio to 12:8, however no diffraction peak corresponding to InAlN was detected at 6:12 Ar:N 2 mixture. The surface roughness of InAlN film exhibited an increasing trend whereas the electrical resistivity of the film was decreased by increasing the Ar:N 2 ratio. The bandgap of InAlN film was calculated from the optical reflectance spectra and it was found to change by changing the Ar:N 2 gas ratio. The analysis of results from this work shows that the InAlN film with improved physical properties can be obtained through reactive magnetron co-sputtering method by adjusting the Ar:N 2 mixture to 12:8.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,014
Score d'incertitude au seuil0,470

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,008
Tête enseignante GPT0,213
Écart entre enseignants0,205 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle