MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W2520809728 · doi:10.1063/1.4962540

Use of the drift-time method to measure the electron lifetime in long-drift-length CdZnTe detectors

2016· article· en· W2520809728 sur OpenAlexaff
A. E. Bolotnikov, G. S. Camarda, E. Chen, R. Gul, V. Dědič, G. De Geronimo, J. Fried, A. Hossain, J. Mackenzie, Luis Ocampo, P.J. Sellin, Saeid Taherion, Emerson Vernon, Ge Yang, U. El-Hanany, R. B. James

Notice bibliographique

RevueJournal of Applied Physics · 2016
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvanced Semiconductor Detectors and Materials
Établissements canadiensRedlen Technologies (Canada)
Organismes subventionnairesBrookhaven National LaboratoryScience and Technology Facilities Council
Mots-clésDetectorElectronMeasure (data warehouse)Product (mathematics)PhysicsRange (aeronautics)Function (biology)Work (physics)Electric fieldPlanarComputational physicsOpticsMaterials scienceNuclear physicsMathematicsQuantum mechanicsGeometryComputer science

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

The traditional method for electron lifetime measurements of CdZnTe (CZT) detectors relies on using the Hecht equation. The procedure involves measuring the dependence of the detector response on the applied bias to evaluate the μτ product, which in turn can be converted into the carrier lifetime. Despite general acceptance of this technique, which is very convenient for comparative testing of different CZT materials, the assumption of a constant electric field inside a detector is unjustified. In the Hecht equation, this assumption means that the drift time would be a linear function of the distance. This condition is not fulfilled in practice at low applied biases, where the Hecht equation is most sensitive to the μτ product. As a result, researchers usually take measurements at relatively high biases, which work well in the case of the low μτ-product material, <10−3 cm2/V, but give significantly underestimated values for the case of high μτ-product crystals. In this work, we applied the drift-time method to measure the electron lifetimes in long-drift-length (4 cm) standard-grade CZT detectors produced by the Redlen Technologies. We found that the electron μτ product of tested crystals is in the range 0.1–0.2 cm2/V, which is an order of the magnitude higher than any value previously reported for a CZT material. In comparison, using the Hecht equation fitting, we obtained μτ = 2.3 × 10−2 cm2/V for a 2-mm thin planar detector fabricated from the same CZT material.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,001
Score d'incertitude au seuil0,004

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0010,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,013
Tête enseignante GPT0,231
Écart entre enseignants0,218 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations23
Publié2016
Routes d'admission1
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même revueJournal of Applied PhysicsMême sujetAdvanced Semiconductor Detectors and MaterialsTravaux en français237 207