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Enregistrement W2525018093 · doi:10.31399/asm.cp.istfa2013p0243

Physical and Electrical Performance Comparison of Identical 28 nm Qualcomm Telecommunication Die Produced by Samsung and TSMC

2013· article· en· W2525018093 sur OpenAlexaff
Anton Riley, Sean Zumwalt, Sinjin Dixon-Warren, G. Tomkins

Notice bibliographique

RevueProceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis · 2013
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Établissements canadiensChipworks (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésDie (integrated circuit)Static random-access memoryCharacterization (materials science)Computer scienceCompetition (biology)Product (mathematics)Manufacturing engineeringTelecommunicationsElectrical engineeringMaterials scienceEngineeringMechanical engineeringNanotechnology

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Abstract In today’s competitive semiconductor environment, product performance and market timing has never been more valuable. Design IP, speed to market, and taking advantage of the most advanced technology are three ways fabless companies can maintain an advantage over the competition. Foundries target these demands by offering superior support, competitive technology, and rapid development cycles. Using the advanced tool suites of SEM, FIB, TEM, and Atomic Force NanoProbing (AFP) the failure analysis community now has the ability to investigate and compare foundry performance on the device level. The 28 nm LP Qualcomm “SHELBY” die is dual-sourced from both Samsung and TSMC, and is the primary die in the MDM9215 4G/LTE modem used in several smartphones. This represents a unique case of leading technology, available to the public, to qualify for electrical performance on the device level using the AFP and the corresponding physical differences using SEM and TEM. These advanced FA techniques were employed and were able to identify manufacturing differences between foundries. They were then used to relate the physical variations with the electrical device performance. The HG11-N3877 fabricated by TSMC and the HG11-N9204 fabricated by Samsung were the subjects of this comparison (see Error! Reference source not found.). The investigation located spatial and geometric variations of the SRAM devices using cross sectioning and TEM imaging. This was followed by Electrical Characterization of multiple SRAM Cells using the AFP. The electrical measurements showed clear differences in device parameters. These differences highlight manufacturing process differences between the two companies that could directly relate to chip performance.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,961
Score d'incertitude au seuil0,785

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,012
Tête enseignante GPT0,245
Écart entre enseignants0,233 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2013
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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