An electrical-aware parametric DFM solution for analog circuits
Notice bibliographique
Résumé
Today, many of the approaches that are commonly referred to as physical DFM techniques only address catastrophic defects and systematic process variations. These techniques include spreading wires, doubling vias, identification of critical areas in the circuit that are especially susceptible to defects, and identification of proximity effects caused by the lithography process. However, physical DFM tools are purely “geometric”, in that they work to preserve shape fidelity without any knowledge of the impact on the electrical characteristics of the shapes that are manufactured in silicon. While these techniques have proven useful in reducing functional failures and increasing overall yield by a few percentage points, they completely ignore the more important category of parametric failures. The proposed solution presented in this chapter specifically helps to address the parametric performance modeling problems encountered at smaller geometries. As this solution drives design requirements into physical layout design and moves layout awareness upstream into design, useful information about the design (on the physical and electrical level) is captured, analyzed, and simulated. Deviations in the electrical characteristics due to physical layout and process variations, are identified and highlighted on the design. These deviations are referred as electrical hotspots (e-hotspots). To validate this work, The proposed e-hotspot detection engine is verified against silicon wafer data for a level shifter circuit designed at 130nm. The e-hotspot devices with high variation in DC current and causing parametric failure, are identified.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction machine sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.
Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,001 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,001 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,001 |
| Science ouverte | 0,001 | 0,001 |
| Intégrité de la recherche | 0,001 | 0,001 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,003 | 0,001 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».