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Enregistrement W2952739196 · doi:10.82308/47846

Bounding error detection latency with enhanced execution fingerprinting

2016· article· en· W2952739196 sur OpenAlexfundno aff
Mojing Liu

Notice bibliographique

RevueeScholarship@McGill (McGill) · 2016
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueRadiation Effects in Electronics
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesMcGill UniversitySemiconductor Research Corporation
Mots-clésComputer scienceError detection and correctionLatency (audio)Redundancy (engineering)Real-time computingBounding overwatchParallel computingEmbedded systemAlgorithm

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

À cause de la décroissance de la taille des transistors et de la conséquente augmentation de la densité des transistors et de leur réduction en charge cruciale, les systèmes critiques à la sécurité (SCS) sont devenus plus vulnérables contre les erreurs introduites par des ions cosmiques, radiations de l'encapsulation, et des neutrons thermiques. Ces erreurs sont appelées erreurs doux et peuvent causer la défaillance immédiate ou retardée de tout le système. Traditionnellement, ce genre d'erreurs a été adressé par l'utilisation de composant endurci contre les radiations, de redondance d'information (tel que code de détection d'erreurs (EDC) et code correcteur d'erreurs (ECC)), et de redondance d'exécution (tel qu'exécution à phase verrouillée à double redondance modulaire (LS-DMR) ou triple redondance modulaire avec électeur). Toutefois, ces techniques ont tous un même problème : ils ne peuvent pas garantir un temps maximum ou période d'exécution maximale pour le temps de détection de l'erreur après avoir été introduit, ce qui mène à une erreur latente peut demeurer dans un SCS pour des millions de cycles d'exécution sans être détecté. Garantir la latence de détection d'erreurs (EDL) est capitale pour les SCS à ressource limité car une détection retardée peut causer un gaspillage de ressources attribuées pour la calculation. Dans cette thèse, nous proposons Enhanced Execution Fingerprinting (EEF) (capture d'empreinte digitale d'exécution améliorée), une méthode efficace pour limiter EDL. La capture d'empreinte digitale d'exécution (EF) a récemment émergé en tant qu'une solution d'utilisation de ressource efficace de détection d'erreurs basées sur la n-redondance modulaire pour les systèmes à multiple criticité. EF compresse l'information d'exécution du processeur dans un mot à taille fixe nommée fingerprint et la détection d'erreurs est faite par la comparaison de fingerprint générée par une exécution redondante. Ce travail renforce EF par l'addition de deux techniques originales : State Checkpoingting (SC) et Selective State Streaming (SSS). En poussant activement l'état des registres vers le circuit de d'empreinte digitale, les méthodes proposées peuvent tous les deux garantir la latence des erreurs détectées avec un surcoût en surface limité. Avec une simulation d'injection de fautes à multi-bits, dans cette thèse, on évalue et mesure la capabilité de détection d'erreurs d'EF-SC et EF-SSS. Nos simulations montrent que EF-SC et EF-SSS peuvent limiter EDL à une période fixe prédéterminé, réduit la distance hamming des erreurs et aussi réduit le taux d'erreur affectant le flux de contrôle tout en seulement introduisant un taux de surcoût d'information additionnelle de 1% comparé à EF traditionnelle.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,275
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0010,000
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,007
Tête enseignante GPT0,196
Écart entre enseignants0,189 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations0
Publié2016
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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