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Enregistrement W3138609293 · doi:10.1109/tcpmt.2021.3065579

A Novel Chip-Join Assembly Using Heterogeneous Sn-Ag Bumps

2021· article· en· W3138609293 sur OpenAlex
Abderrahim El Amrani, Etienne Paradis, David Danovitch, Dominique Drouin

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueIEEE Transactions on Components Packaging and Manufacturing Technology · 2021
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensInstitut interdisciplinaire d'innovation technologiqueUniversité de Sherbrooke
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Mots-clésElectromigrationMaterials scienceSolderingFlip chipElectroplatingThermal copper pillar bumpFabricationLayer (electronics)Diffusion barrierChipOptoelectronicsComposite materialComputer scienceAdhesive

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In this article, a flip-chip assembly using a heterogeneous solder bump structure is studied. The metallurgical and shape evolution, from bump fabrication through final assembly, is presented, characterized, and discussed. Aiming for lower residual stress during flip-chip assembly, a sequentially plated bump is fabricated to ensure a ductile low Ag content solder proximate to the fragile chip back end of line (BEOL) layers while providing a separate solder portion with a high Ag content. Such a heterogeneous structure is enabled by the integration of a Ni cap barrier within the sequential electroplating process that serves to prevent Ag diffusion between the two distinct solder portions. The heterogeneous structure is shown to remain intact through the chip join operation, thereby proposing improved BEOL integrity during joint solidification. Further, the cap barrier induces a unique, pillar-like solder structure that provides the opportunity to optimize fine pitch assembly processes without the use of a stiff Cu-pillar layer. Finally, the cap barrier is shown to successfully break down using an additional reflow after underfill reinforcement, thus homogenizing the structure into a high-Ag content solder to optimize electromigration resistance.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,363
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0010,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,022
Tête enseignante GPT0,232
Écart entre enseignants0,209 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle