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Enregistrement W4229506424 · doi:10.1117/3.601520.ch5

Wafer Steppers

2009· book-chapter· en· W4229506424 sur OpenAlexaff
Harry Levinson

Notice bibliographique

RevueSPIE eBooks · 2009
Typebook-chapter
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvancements in Photolithography Techniques
Établissements canadiensAdvanced Micro Devices (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésWaferStepperWafer testingContact printResistScannerMaterials scienceOptoelectronicsEngineering drawingNanotechnologyOpticsEngineeringElectrical engineeringPhysics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Wafer steppers, introduced briefly in Chapter 1, are discussed further in this chapter, paying particular attention to the key subsystems of the modern reduction stepper, such as light sources, illuminators, reduction lenses, and the wafer stage. Alignment systems will be discussed in more detail in Chapter 6. In all of these discussions, the viewpoint will be that of the user. 5.1 Overview Prior to the advent of wafer steppers, circuit patterns were transferred from masks to wafers by contact or proximity printing, or by using full wafer scanners. In contact printing, a mask that had the pattern for all chips on the wafer was brought into contact with a resist-coated wafer. The mask was illuminated, thereby exposing the resist under the clear features on the mask. This method of exposure was used in the earliest days of the semiconductor electronics industry, but the mechanical contact caused defects on both the mask and wafer, reducing productivity. Proximity printing, where masks and wafers were brought close to each other, but not into contact, was one approach to reducing the problem of defects that arises with contact printing. Unfortunately, resolution was poor when the gap between the mask and the wafer was a practical size, as a consequence of diffraction. The first workable solution to this problem was the full wafer scanner, which also used a mask that contained the patterns of all chips that were transferred 1:1 to the wafer. The most common method for making the masks used for contact, proximity or full-wafer scanning lithography involved a photorepeater. The photorepeater had a stage on which an unpatterned mask could be placed and moved precisely (Fig. 5.1). A reduction lens was used to image the pattern of a single chip onto the resist-coated mask blank, exposing the mask one chip at a time and using the precise stage to move the mask between exposures. In order to distinguish between the mask being made with multiple chips and the master object containing the pattern of only one chip, the single-chip mask was called a reticle. Eventually it occurred to someone to eliminate the intermediate mask and exposure tool, and essentially to use a photorepeater to expose the wafer directly. Thus, the wafer stepper was born. A cutaway view of a modern wafer stepper is shown in Fig. 5.2 (see Color Plates Section). This view shows all the major subsystems: reduction lens and illuminator, excimer laser light source, wafer stage, reticle stage, wafer cassettes, and operator workstation. In this particular figure, wafers are being taken from cassettes.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Sans objet · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Autre · Signal consensuel: Autre
Score de désaccord entre enseignants0,082
Score d'incertitude au seuil0,276

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0020,002
Études des sciences et des technologies0,0010,000
Communication savante0,0020,002
Science ouverte0,0020,002
Intégrité de la recherche0,0010,002
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0820,046

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,011
Tête enseignante GPT0,219
Écart entre enseignants0,208 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSans objet
Domainenon disponible
GenreAutre

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations0
Publié2009
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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