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Enregistrement W4392387806 · doi:10.4071/001c.94477

Electromigration of Power Devices Part 2: Power Device in Applications in Controlled Environment

2024· article· en· W4392387806 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueIMAPSource Proceedings · 2024
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensInfineon Technologies (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésElectromigrationJunction temperatureReliability (semiconductor)Power semiconductor deviceCurrent (fluid)Power (physics)DissipationPower moduleSemiconductor deviceWork (physics)Electrical engineeringComputer scienceMaterials scienceReliability engineeringMechanical engineeringEngineeringVoltagePhysics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In the power semiconductor industry, there is a continuous development toward a higher current capability of devices while device’s dimensions shrink. Although higher current is preferred, the reliability risk of the electromigration (EM) remains challenging. In the present study, a special EM test vehicle is used to investigate the pure EM behavior of power device, following our previous work. The selection of the test condition is discussed in detail, which is defined based on the temperature and current profiles of the device in the actual application, focusing on the applications of the power devices in a controlled environment, i.e., data centers or telecommunication servers. The current and temperature profiles of the device are discussed based on the device’s maximum power dissipation and its respective thermal design. The results show that the different combinations of currents and temperatures can lead to different ratios of acceleration factor between the temperature and the current. Consequently, an inappropriate selection of the testing condition can result in the over-domination of temperature over the current, leading to wrong conclusions. The effects of the PCB surface finish (both Ni and Sn plating) as well as different electron flow directions on the EM were studied. It is concluded that the maximum current that can be applied to a power device in the application within a controlled environment is rather limited by the cooling capability of the system than the EM induced device failure.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,372
Score d'incertitude au seuil0,590

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,005
Tête enseignante GPT0,206
Écart entre enseignants0,201 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle