Digital Scan and ATPG for Analog Circuits
Pourquoi ce travail est dans la base
Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.
Notice bibliographique
Résumé
Scan-based automatic test pattern generation (ATPG) is commonly used for ‘random logic’ in ICs, but there is no equivalent for analog/mixed-signal (AMS) circuits due to their diversity of functions, stimuli, and responses. As a result, tests are written manually on the intended automatic test equipment (ATE) with (possibly defective) ‘first silicon’ devices, typically requiring months of effort and test times higher than for the digital circuitry. Proving the defect coverage of these tests in simulation is typically impractical, and <80% when it can be simulated. This paper describes a structural, scan-based design-for-test (DfT) and ATPG technique for ‘random analog’ that has minimal area and performance impact. The tests can be applied by digital ATE and IEEE 1687 (IJTAG) networks. Results show that automatically generated tests for a 4<sup xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink">th</sup>-order filter, bandgap + voltage regulator, 8-bit DAC, and industrial 11-bit SAR ADC achieve comparable or higher coverage of IEEE P2427-specified shorts and opens, relative to specification tests, in <1 ms. Defect coverage can be simulated in <1 hour, fast enough to verify before tape-out.
Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle