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Enregistrement W4407097988 · doi:10.1109/tns.2025.3537609

Analysis of Guard Gates on FF SEU Rates at a 12-nm FinFET Node

2025· article· pt· W4407097988 sur OpenAlex
Christopher Elash, Jiesi Xing, Peiman Pour Momen, Devin P. Ramaswami, Hangjun Lu, Zongru Li, Shi-Jie Wen, Rita Fung, Li Chen

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueIEEE Transactions on Nuclear Science · 2025
Typearticle
Languept
DomaineEngineering
ThématiqueIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Établissements canadiensUniversity of Saskatchewan
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaCMC MicrosystemsCisco Systems
Mots-clésNode (physics)Logic gateGuard (computer science)Electrical engineeringOptoelectronicsPhysicsRandom access memoryMaterials scienceElectronic engineeringComputer scienceEngineeringComputer hardwareQuantum mechanics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

This article studies the soft error rates (SERs) of latches by using different delay lengths in guard gate (GG)-based flip-flop (FF) designs at a 12-nm FinFET technology node. Three FFs are designed by using the guard-gate structure with varying delay elements (two, four, and six inverter delays), along with a standard reference FF. The FFs were connected in chains and fabricated on a test chip, which was tested with alpha particles, heavy ions, and protons. Results indicate that single-event upset (SEU) rates can be reduced with the guard-gate structure during alpha particle irradiation. However, the guard-gate designs only show slight SER improvement over the reference design for moderate and high linear energy transfer (LET) ranges. Through technology computer aided design (TCAD) simulations, it is shown that the single-event transient (SET) pulse widths for moderate- to high-LET particles can be significantly longer than the delay-element propagation times. Also, guard-gate designs experience a strong dependence on data input patterns regarding SERs, which is due to uneven charge collection in pMOS and nMOS devices at this node.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict), Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,030
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0030,008
Études des sciences et des technologies0,0010,001
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0020,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,013
Tête enseignante GPT0,249
Écart entre enseignants0,236 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle