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Enregistrement W4407641591 · doi:10.4071/001c.129730

Laser Assisted Bonding for Flip Chip Interconnection of Very Large Chips

2025· article· en· W4407641591 sur OpenAlexafffund
Cheikh Samba Sarr, David Danovitch, Malak Kanso, Pascale Gagnon, Marc-Olivier Pion

Notice bibliographique

RevueIMAPSource Proceedings · 2025
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor Lasers and Optical Devices
Établissements canadiensIBM (Canada)Université de Sherbrooke
Organismes subventionnairesCentre National de la Recherche ScientifiqueInstitut National des Sciences Appliquées de LyonFonds de recherche du Québec – Nature et technologiesUniversité Grenoble AlpesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaUniversité de SherbrookeIndian National Science Academy
Mots-clésFlip chipInterconnectionMaterials scienceChipLaserOptoelectronicsComputer scienceOpticsNanotechnologyTelecommunicationsPhysics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In recent years, laser-assisted bonding (LAB) has emerged as a promising means to address specific flip-chip assembly issues associated with conventional mass-reflow (MR) and thermo-compression bonding (TCB) processes, for example chip warpage reduction. However, studies have predominantly focussed on small to medium sized chips. For memory, processor, and interposer applications, chip sizes may be much larger. The ability to effectively distribute laser energy across such larger interconnection areas is practically unexplored. This paper investigates LAB behavior for a 25mm x 26mm silicon chip comprising Cu pillar/SAC solder interconnects, with a particular focus on the size of the optically generated homogeneous laser beam. A heat transfer study was first conducted to estimate the relationship between chip surface temperature, which can be measured and controlled during the LAB process, and actual joint temperature, the latter requiring a special thermocouple assembly module. The responses allowed the determination of an appropriate range of LAB profile parameters for assembly development. Assembly results reported revealed that beam size extension beyond the chip region is critical to achieving repeatable defect-free interconnection of such large chips. This relationship was additionally supported by thermal finite element modelling (FEM) that demonstrated that the impact of convective effects at the chip periphery on solder joint temperature distribution, and remediation of same by beam size enlargement, became increasingly important with increasing chip size. It was further demonstrated that, despite the larger beam size and its effect on substrate surface temperature, post assembly chip warpage was reduced by about 50% using LAB as compared to the MR process. Finally, microstructural comparisons between LAB and MR validated that initial intermetallic compound (IMC) formations are significantly reduced on these large chip assemblies, in line with previous studies on smaller chips.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,003
Score d'incertitude au seuil0,010

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0030,001

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,010
Tête enseignante GPT0,236
Écart entre enseignants0,226 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations0
Publié2025
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Résumé présentoui

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