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Enregistrement W1989547031 · doi:10.1117/12.718185

Successful MWIR FPA fabrication using gas cluster ion-beam InSb surface finishing

2007· article· en· W1989547031 sur OpenAlexaff
L.P. Allen, G. Dallas, K. Blanchet, Shivashankar Vangala, C. Santeufemio, W. D. Goodhue, E. Roehl, C. E. Jones, J.B. Barton, Barry M. Zide, Vincent DiFilippo, K. S. Jones

Notice bibliographique

RevueProceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE · 2007
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvanced Semiconductor Detectors and Materials
Établissements canadiensLockheed Martin (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésMaterials scienceOptoelectronicsFabricationEtching (microfabrication)Focused ion beamOpticsNanotechnologyIonChemistryLayer (electronics)Physics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

As the demand for mid wavelength infrared (MWIR) focal plane arrays (FPAs) continues to increase, the quality of InSb surfaces becomes more stringent. State-of-the art InSb contains <20 etch pits/cm<sup>2</sup> (EPD), and provides a surface suitable for rapid oxide desorption and high quality MBE growth. In order to satisfy resolution and sensitivity requirements for advanced MWIR FPA imaging systems ( 1 to 5.4 &#956;m region @77°K), the surface and sub-surface of the material must be of excellent quality. CMP has proven to be a qualified finishing process for InSb surfaces in the fabrication of IRFPAs. However, a time consuming surface etch is universally required in the IRFPA manufacturing process. Gas cluster ion beam processing (GCIB) has been shown to significantly enhance the surface oxide desorption of both GaSb and InSb substrates for MBE growth and provides an alternate surface finish for IRFPA manufacturing. The use of GCIB may preclude the need for surface etching, thus reducing IRFPA processing time and chemical cleanup. This study examines the comparison of CMP and GCIB finishes on InSb surfaces and the effect on final IRFPA device pass rates. NF<sub>3</sub>/O<sub>2</sub> dual energy GCIB surface processing was used in this study. Atomic force microscopy (AFM), cross-section transmission electron microscopy (XTEM), and rocking curve x-ray diffraction (XRD) examine the surface and subsurface InSb integrity. A comparison of pass-rates for completed IRFPAs with the CMP and GCIB surface shows the pass-rate to be the same, opening the possibility for etch step elimination.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,072
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,013
Tête enseignante GPT0,239
Écart entre enseignants0,226 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2007
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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