Accuracy of photocarrier radiometric measurement of electronic transport properties of ion-implanted silicon wafers
Notice bibliographique
Résumé
The determination of the electronic transport properties of ion-implanted silicon wafers with the photocarrier radiometry (PCR) technique by fitting frequency scan data to a single layer model via a multiparameter fitting procedure is presented. A three-layer model is used to simulate the inhomogeneous structure of the ion-implanted wafers. The effects of the structural, electronic, and optical properties of the implanted layer, which are affected significantly by ion implantation, on the frequency behavior of the PCR signal of implanted wafers are discussed. Data simulated with the three-layer model are fitted to a single-layer model to extract the electronic transport properties of implanted wafers. The fitted carrier lifetime and diffusion coefficient are found to be close to that of the substrate layer which is assumed to remain intact after the ion implantation process. When self-normalized relative amplitude is used in the multiparameter fitting, the fitted surface recombination velocity is determined primarily by the level of electronic damage and is approximately independent of the level of optical damage. Experiments with boron implanted wafers were performed and the experimental results were in agreement with the simulations. These results show that the PCR technique is capable of measuring the bulk transport properties of ion-implanted silicon wafers.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».