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Enregistrement W2074317550 · doi:10.1088/0960-1317/20/6/065012

Void nucleation at a sequentially plasma-activated silicon/silicon bonded interface

2010· article· en· W2074317550 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueJournal of Micromechanics and Microengineering · 2010
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
Thématique3D IC and TSV technologies
Établissements canadiensMcMaster University
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaMcMaster University
Mots-clésNucleationMaterials scienceVoid (composites)SiliconReactive-ion etchingWaferScanning electron microscopePlasma etchingAnnealing (glass)Transmission electron microscopyComposite materialPlasmaPlasma activationAnalytical Chemistry (journal)Etching (microfabrication)ChemistryNanotechnologyMetallurgyLayer (electronics)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Two 4 inch silicon wafers were directly bonded using a sequentially plasma-activated bonding method (i.e. O2 reactive ion etching (RIE) plasma followed by N2 microwave (MW) radicals) at room temperature. The bonded wafers were annealed from 200 to 900 °C in order to explore the nucleation of voids at the interface. The plasma-induced void nucleation was dominated by O2 RIE power over O2 RIE activation time. The thermal-induced void nucleation occurred preferentially at the plasma-induced defect sites. The nucleation of void density was quantitatively determined and explained using high-resolution transmission electron microscopy observations. The electron energy loss spectroscopy results revealed the existence of silicon oxide at the bonded interface. The reduction in bonding strength after annealing at high temperature is correlated to the increase in void density. The contact angle and surface roughness of the sequentially plasma-treated surfaces have been observed to explain the nucleation of voids and the reduction of bonding strength. The plasma-induced defect sites such as nanopores and craters have been identified using an atomic force microscope.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,018
Score d'incertitude au seuil0,876

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,005
Tête enseignante GPT0,186
Écart entre enseignants0,181 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle