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Enregistrement W4400079415 · doi:10.1016/j.nimb.2024.165439

In Plasma ion beam analysis of polymer layer and adsorbed H monolayer etching

2024· article· en· W4400079415 sur OpenAlex
Louis‐Charles Fortier, M. Chicoine, Simon Chouteau, Mathilde Clausse, É. Lalande, A. W. Lussier, S. Roorda, Luc Stafford, G. Terwagne, F. Schiettekatte

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueNuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms · 2024
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueIon-surface interactions and analysis
Établissements canadiensUniversité de Montréal
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaCanada Foundation for InnovationFonds de recherche du Québec – Nature et technologiesMinistère des relations internationales et de la Francophonie
Mots-clésElastic recoil detectionSputteringAnalytical Chemistry (journal)PlasmaEtching (microfabrication)Plasma etchingIon beamNuclear reaction analysisDesorptionMaterials scienceIonChemistryLayer (electronics)AdsorptionThin filmNanotechnology

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

We present two experiments where a layer is plasma-etched while monitoring its evolution by in plasma ion beam analysis. First, we etch a photoresist with a diffuse O 2 plasma at low pressure. Using a 4.335 MeV He beam, Rutherford Backscattering Spectrometry and Elastic Recoil Detection spectra are acquired every minute during 8 h. Etching of most elements follows a linear trend, but H desorbs faster at the beginning of the plasma process, which we ascribe to the ion beam-induced desorption. In addition, we observe a thin Mo layer building up at the surface, likely due to the sputtering of an electrode in the plasma source. Secondly, we etch in HF a crystalline Si (c-Si) sample with < 100 > surface orientation, which should leave 14 H/nm 2 bonded to the c-Si surface. The sample is then introduced in the chamber and exposed to a diffuse Ar plasma at low pressure. During plasma processing, the H surface concentration is monitored using a resonant nuclear reaction with a 15 N beam at 6.385 MeV. The initial H concentration is 11 . 7 ± 1 . 1 H/nm 2 , and it decreases over a 3-minute timescale to an equilibrium concentration of 6 . 0 ± 0 . 8 H/nm 2 . Over the range of experimental conditions investigated, the diffuse Ar plasma is therefore not able to entirely sputter the H from the c-Si surface.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,251
Score d'incertitude au seuil0,559

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,034
Tête enseignante GPT0,385
Écart entre enseignants0,352 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle