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Constructeur de cohorte

4 299 418 travaux, canadiens par l’une de quatre routes.

Chaque état de filtre est une URL; l’URL est la requête; la requête est citable via /q/⟨hash⟩. La page, l’API et l’export analysent les mêmes paramètres.

La cohorte courante, diffusée en continu depuis la base de données : toutes les colonnes des travaux, les étiquettes machine, les scores provisoires et l'état de validation de chaque rangée. Les exportations sont plafonnées à 100 000 rangées. Crée un lien /q/ permanent pour cette requête exacte. Les mêmes filtres produisent toujours le même lien, qui que soit le demandeur.

Terme de recherche
Auteur ou autrice
Période
Ordre
Langue
Type
Domaine
Revue
Sujet
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Rétractation
Résumé
Source des données probantes
Devis d'étude
Accord des étiquettes
État des étiquettes

Les étiquettes directes de Codex et Gemma sont non validées et clairsemées. Les prédictions distillées couvrent la base complète et sont elles aussi non validées. Choisissez explicitement la source; l'absence d'une étiquette directe n'est jamais une étiquette négative.

affaffiliation
fundbailleur
venuerevue
aboutsujet

Les quatre voies se composent : exigez la voie du financement et excluez l'affiliation pour obtenir la strate financée-seulement qu'aucune base fondée sur l'affiliation ne voit jamais.

352 résultats · 1 filtre actif ·
Résultats par année
20002025
Date de publication
Catégories
Étiquettes machine · couverture clairsemée
Preuves
Langue
Type
Citations
Un travail non étiqueté est inconnu, pas un négatif. La couverture est rapportée à chaque requête.
352 travaux dans la cohorte · sur 4 299 418page 6 sur 8

Les étiquettes couvrent 0 des 352 travaux de cette cohorte. Les autres sont non étiquetés, ce qui n'est pas une étiquette négative : la table des étiquettes est clairsemée aujourd'hui et s'enrichit au fil des rondes d'étiquetage.

Les prédictions distillées couvrent 352 des 352 travaux de cette cohorte. Ces prédictions portent le statut machine_predicted_unvalidated. Le mode candidate est l'union; le consensus est l'intersection.

affnon étiqueté
Emission Microscopy: A Historical Review
Neeraj Khurana
2001· review· en· EDFA Technical Articles· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
EOTPR Fine Pitch Probing for Die-to-Die Interconnect Failure Analysis
Bernice Zee, Wen Qiu, Aaron Wai Ken Lee, Jesse Alton, Thomas P. White, David D. Kim +1 autres
2025· article· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrow+scholarly_communicationconsensus · metaepi_narrow
0
citations
affnon étiqueté
Life-Test Statistics for Small Sample Sizes
T. Clifford
2008· article· Pan Pacific Symposium· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrow+insufficient_payloadconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
Rapid Resistive Interconnection Localization
Edward I. Cole, Paiboon Tangyunyong, C.F. Hawkins, Michael R. Bruce, Victoria J. Bruce, Rosalinda M. Ring +1 autres
2002· article· en· EDFA Technical Articles· Engineering
prédiction distillée:candidate · insufficient_payloadconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
Testing Complex Circuits with Radio-Frequency Reflectometry
Carlos Moreno, Srijan Pabbi, Sebastian Fischmeister
2025· article· en· SAE technical papers on CD-ROM/SAE technical paper series· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
Package Innovation Roadmap
Christian Schmidt, Yan Li, Bernice Zee, Rohin Agny, Renee Parente, Sebastian Brand +2 autres
2023· book-chapter· en· ASM International eBooks· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrow+insufficient_payloadconsensus · insufficient_payload
0
citations
afffundsans résuménon étiqueté
Pulsed electroluminescence in a dopant-free gateable semiconductor
Stephen R. Harrigan, F. Sfigakis, Lin Tian, Nachiket Sherlekar, Brady Cunard, Man Chun Tam +4 autres
2025· article· en· Physical Review Applied· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
Tester Assisted Multiple Emission Microscopy
Christian Hollerith, Gerhard Borgmann, Wolfgang Schaller, Christian Burmer, Christof Brillert
2015· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
Spatially-resolved EELS and EDS Analysis of HfO<sub>x</sub>N<sub>y</sub> Gate Dielectrics Deposited by MOCVD using [(C<sub>2</sub>H<sub>5</sub>)<sub>2</sub>N]<sub>4</sub>Hf with NO and O<sub>2</sub>
Xiaohua Wu, Martin Couillard, M.-S. Lee, J. H. Chen, G. A. Botton, D. Landheer +3 autres
2004· article· en· Microscopy and Microanalysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrow+sts+scholarly_communication+research_integrityconsensus · metaepi_narrow+research_integrity
0
citations

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