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Constructeur de cohorte

4 299 418 travaux, canadiens par l’une de quatre routes.

Chaque état de filtre est une URL; l’URL est la requête; la requête est citable via /q/⟨hash⟩. La page, l’API et l’export analysent les mêmes paramètres.

La cohorte courante, diffusée en continu depuis la base de données : toutes les colonnes des travaux, les étiquettes machine, les scores provisoires et l'état de validation de chaque rangée. Les exportations sont plafonnées à 100 000 rangées. Crée un lien /q/ permanent pour cette requête exacte. Les mêmes filtres produisent toujours le même lien, qui que soit le demandeur.

Terme de recherche
Auteur ou autrice
Période
Ordre
Langue
Type
Domaine
Revue
Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis
Sujet
Rétractation
Résumé
Source des données probantes
Devis d'étude
Accord des étiquettes
État des étiquettes

Les étiquettes directes de Codex et Gemma sont non validées et clairsemées. Les prédictions distillées couvrent la base complète et sont elles aussi non validées. Choisissez explicitement la source; l'absence d'une étiquette directe n'est jamais une étiquette négative.

affaffiliation
fundbailleur
venuerevue
aboutsujet

Les quatre voies se composent : exigez la voie du financement et excluez l'affiliation pour obtenir la strate financée-seulement qu'aucune base fondée sur l'affiliation ne voit jamais.

46 résultats · 1 filtre actif ·
Résultats par année
20002025
Date de publication
Catégories
Étiquettes machine · couverture clairsemée
Preuves
Langue
Type
Citations
Un travail non étiqueté est inconnu, pas un négatif. La couverture est rapportée à chaque requête.
46 travaux dans la cohorte · sur 4 299 418page 1 sur 1

Les étiquettes couvrent 0 des 46 travaux de cette cohorte. Les autres sont non étiquetés, ce qui n'est pas une étiquette négative : la table des étiquettes est clairsemée aujourd'hui et s'enrichit au fil des rondes d'étiquetage.

Les prédictions distillées couvrent 46 des 46 travaux de cette cohorte. Ces prédictions portent le statut machine_predicted_unvalidated. Le mode candidate est l'union; le consensus est l'intersection.

affnon étiqueté
Resistive Interconnection Localization
Edward I. Cole, Paiboon Tangyunyong, C.F. Hawkins, Michael R. Bruce, Victoria J. Bruce, Wan-Loong Chong +1 autres
2001· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
35
citations
affnon étiqueté
Steps Toward Automated Deprocessing of Integrated Circuits
E.L. Principe, Navid Asadizanjani, Domenic Forte, Mark Tehranipoor, Robert Chivas, Michael DiBattista +4 autres
2017· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
25
citations
affnon étiqueté
Combinational Logic Analysis Using Laser Voltage Probing
Venkat Krishnan Ravikumar, Winson Lua, Seah Yi Xuan, Gopinath Ranganathan, Angeline Phoa
2015· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
11
citations
affnon étiqueté
How Xe and Ga FIB Differ in Inducing Lateral Damage on TEM Samples
Tomáš Hrnčíř, Jozef Vincenc Oboňa, Martin Petrenec, Jan Michalička, Christian Lång
2015· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
3
citations
affnon étiqueté
Latch-Up Root Cause Analysis for New ASIC Design
W. Danielak, Wagner Fontes dos Reis Machado, M. Jaffer, Sebastian M. Waldstein, A. Jordan, Manoj Sachdev +1 autres
2007· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
1
citations
affnon étiqueté
Temperature-Dependent Die Warpage Measurements Up to 400°C
Tobias Mittereder, Bernhard Ferstl, Terry Heidmann, Christian Hollerith
2017· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
1
citations
affnon étiqueté
Tester Assisted Multiple Emission Microscopy
Christian Hollerith, Gerhard Borgmann, Wolfgang Schaller, Christian Burmer, Christof Brillert
2015· article· en· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
0
citations
affnon étiqueté
EOTPR Fine Pitch Probing for Die-to-Die Interconnect Failure Analysis
Bernice Zee, Wen Qiu, Aaron Wai Ken Lee, Jesse Alton, Thomas P. White, David D. Kim +1 autres
2025· article· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrow+scholarly_communicationconsensus · metaepi_narrow
0
citations
affnon étiqueté
Laser Probe Techniques with Adaptive FPGA Device
Zhi Hao Ko, Amitesh Kumar, Jobin Thomas Valliyakalayil
2025· article· Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis· Engineering
prédiction distillée:candidate · metaepi_narrowconsensus · aucune
0
citations

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