4 299 418 travaux, canadiens par l’une de quatre routes.
Chaque état de filtre est une URL; l’URL est la requête; la requête est citable via /q/⟨hash⟩. La page, l’API et l’export analysent les mêmes paramètres.
La cohorte courante, diffusée en continu depuis la base de données : toutes les colonnes des travaux, les étiquettes machine, les scores provisoires et l'état de validation de chaque rangée. Les exportations sont plafonnées à 100 000 rangées. Crée un lien /q/ permanent pour cette requête exacte. Les mêmes filtres produisent toujours le même lien, qui que soit le demandeur.
Résultats par année
20002025
Date de publication
Catégories
Étiquettes machine · couverture clairsemée
Preuves
Langue
Type
Citations
Un travail non étiqueté est inconnu, pas un négatif. La couverture est rapportée à chaque requête.
180 travaux dans la cohorte · sur 4 299 418page 2 sur 4
Les étiquettes couvrent 0 des 180 travaux de cette cohorte. Les autres sont non étiquetés, ce qui n'est pas une étiquette négative : la table des étiquettes est clairsemée aujourd'hui et s'enrichit au fil des rondes d'étiquetage.
Les prédictions distillées couvrent 180 des 180 travaux de cette cohorte. Ces prédictions portent le statut machine_predicted_unvalidated. Le mode candidate est l'union; le consensus est l'intersection.
Shuo Zheng, Ripon Kumar Dey, Ferhat Aydinoglu, Bo Cui
2016· article· en· Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena· Engineering
F. Delachat, C. Constancias, Jérôme Rêche, B. Dal’zotto, Laurent Pain, Boris Le Drogoff +2 autres
2014· article· en· Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena· Engineering
2014· article· en· Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena· Engineering
Francesco Narda Viscomi, Ripon Kumar Dey, Roberto Caputo, Bo Cui
2015· article· en· Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena· Engineering
2018· article· en· Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena· Engineering
Mirwais Aktary, K. L. Westra, M. R. Freeman, Yasutaka Tanaka
2006· article· en· Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena· Engineering
